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外觀檢查機-AOI
應用晶粒外觀檢查,針對晶粒之刮傷、污染與崩損等缺陷進行自動化檢測,以解決人工 目檢之目的,達到全自動化檢測之目標。 ❈ 高分辨率光學系統 ❈ 檢測軟體自行研發 ❈ 人性化操作介面